X荧光仪

设备名称：ZSX primus II X射线荧光光谱仪

制造厂家:日本理学

性能指标：

  测量量程：0.1%~90%

  稳定度：±0.005%

  样品交换器：12,24,36,48

  样品尺寸：Φ51mm*40mm（H）

  分析样品面：最大Φ35mm

  样品旋转：30rpm

  最大扫描速度;1400°/min（20）

  连续扫描：0.1-240°/ min

  测角范围：sc、5°-118°，F-PC、13°-148°

应用范围

  1、适用于各类矿石、钢铁、铁合金、有色金属等金属材料及其附产品如炉渣、耐火材料等试样中的多种元素的常量及微量的定量分析。

1、 上述材质的样品中未知元素的定性以及半定量分析。