设备名称:ZSX primus II X射线荧光光谱仪

制造厂家:日本理学

性能指标:

  测量量程:0.1%~90%

  稳定度:±0.005%

  样品交换器:12,24,36,48

  样品尺寸:Φ51mm*40mm(H)

  分析样品面:最大Φ35mm

  样品旋转:30rpm

  最大扫描速度;1400°/min(20)

  连续扫描:0.1-240°/ min

  测角范围:sc、5°-118°,F-PC、13°-148°

应用范围

  1、适用于各类矿石、钢铁、铁合金、有色金属等金属材料及其附产品如炉渣、耐火材料等试样中的多种元素的常量及微量的定量分析。

1、 上述材质的样品中未知元素的定性以及半定量分析。


ICP电感耦合等离子体发射光谱仪
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